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RX Solutions CT應(yīng)用領(lǐng)域——科學(xué)與學(xué)術(shù)研究

發(fā)布者：admin 點(diǎn)擊：2328 發(fā)布時(shí)間：2020-12-8

01材料科學(xué)，生命科學(xué)，地質(zhì)學(xué)，古生物學(xué)...眾多研究領(lǐng)域都使用X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)

長期以來，無論是學(xué)習(xí)、理解還是開發(fā)，科學(xué)研究一直是人類活動(dòng)的基本組成部分科學(xué)研究的發(fā)展總是伴隨著對(duì)科研工具的改進(jìn)。新的技術(shù)正在實(shí)驗(yàn)室中占據(jù)首要位置，使得科研人員能夠持續(xù)推進(jìn)知識(shí)迭代和對(duì)當(dāng)前的技術(shù)革新，分析方法和表征物質(zhì)的手段使得在材料科學(xué)、生物學(xué)和地質(zhì)學(xué)中開展更全面和詳細(xì)的研究成為可能。基于持續(xù)改進(jìn)的需要，以及為了保持待分析樣品的完整性，X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描在技術(shù)研究和研究實(shí)驗(yàn)室中找到了它的位置。更快的數(shù)據(jù)傳輸、更大的存儲(chǔ)能力、更強(qiáng)的計(jì)算能力...處理更重要體積的能力提升使得對(duì)更具代表性的樣品進(jìn)行更多分析成為可能。技術(shù)和工藝的進(jìn)步使分辨率和圖像質(zhì)量不斷提高，使計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)不斷突破其極限參數(shù)。

02多功能性和開放性：滿足科研人員的主要需求

從動(dòng)物頭骨的數(shù)字化，到陶瓷的表征以及有機(jī)樣品的分析，RX Solutions的計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)覆蓋了廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。此外，RX Solutions的X射線技術(shù)允許您在微米和納米精度下工作，便于以小的細(xì)節(jié)觀察您的樣品。RX Solutions系列儀器的開放性和多功能性不僅使其對(duì)應(yīng)用具有很強(qiáng)的適應(yīng)性，而且用戶可以方便地選擇其儀器的配置，并在必要時(shí)進(jìn)行升級(jí)。單個(gè)設(shè)備提供多種X射線源和探測器的選項(xiàng)。我們的目標(biāo)是提供適合用戶需求的佳解決方案。

采用RX Solutions的X-Act軟件進(jìn)行圖像采集和重構(gòu)，并允許用戶創(chuàng)建自己的腳本。2D圖像和重構(gòu)切片有多種文件格式便于在第三方軟件進(jìn)行后期處理。

無論是整體還是局部觀察，以下是一些應(yīng)用案例

地質(zhì)學(xué)：不同礦物的分割、分析和孔隙網(wǎng)絡(luò)建模、流體流動(dòng)模擬

生命科學(xué)：動(dòng)植物形態(tài)研究、生物醫(yī)學(xué)研究

材料科學(xué)：復(fù)合材料樣品分割、纖維分析、孔隙率和/或夾雜物分析、粉沫特性、3D打印、掃描樣品的數(shù)值模擬等

自然史：古董研究、博物館藏品數(shù)字化、化石數(shù)字化和研究

03原位試驗(yàn)臺(tái)搭配RX solutions計(jì)算機(jī)斷層掃描：日益普遍

讓實(shí)時(shí)觀測樣件的3D演變過程成為可能。

RX Solutions設(shè)計(jì)的X射線斷層掃描系統(tǒng)可以方便地集成環(huán)境設(shè)備進(jìn)行原位掃描。無論是表征地質(zhì)元素在特定條件下的演化（流體流動(dòng)、壓力或溫度誘導(dǎo)），還是監(jiān)測樣品的溫度（狀態(tài)變化、物理性質(zhì)改變），可能的應(yīng)用多種多樣。原位斷層掃描技術(shù)的另一個(gè)應(yīng)用，跟確定材料特性的機(jī)械測試有關(guān)，也受到機(jī)械實(shí)驗(yàn)室的高度重視

在艙內(nèi)實(shí)施測試單元的好處在于不改變掃描過程的環(huán)境而跟蹤樣品的演變，因此，獲得的結(jié)果對(duì)正在進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)具有代表性。而且一旦試驗(yàn)和掃描完成，也可以很容易地用其他分析方法加以補(bǔ)充。

許多實(shí)驗(yàn)室自己設(shè)計(jì)試驗(yàn)裝置，我們可協(xié)助優(yōu)化解決方案。RX Solutions與原位試驗(yàn)測試設(shè)備商Deben深度合作，Deben原位測試設(shè)備適用于顯微斷層掃描，以提供一個(gè)易于使用的解決方案。在壓縮、拉伸甚至扭轉(zhuǎn)過程中，無論有沒有溫度控制，這些設(shè)備都能實(shí)時(shí)跟蹤樣品的力學(xué)行為。在機(jī)械應(yīng)力作用下進(jìn)行斷層掃描，可以直觀地跟蹤樣本，從而更好地了解失效機(jī)理。

原位斷層掃描的另一個(gè)好處是與數(shù)值模擬模型的比較，有可能識(shí)別并因此在力學(xué)行為中考慮樣品在應(yīng)力作用下真實(shí)不足的出現(xiàn)。

無論研究應(yīng)用領(lǐng)域、性質(zhì)或樣本大小，RX Solutions的解決方案滿足客戶多樣化的要求。

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